Leicas högklassiga optiska kvalitet ger NA2 & NAK2 en ljusstark bild med hög kontrast.
knapp för kompensatorkontroll
ändlösa horisontalfinskruvar för både höger och vänsterhänta
grov och finfocusering i samma ratt
förspända fotskruvar utan axialglapp
ytterligare okular som tillbehör
högklassig optik
Tekniska data
NA2 / NAK2
Noggrannhet*
0.7 mm, beroende på stång och mätteknik 0.3 mm, med parallellplatte-mikrometer
Förstoring
standard: 32x FOK73 okular som tillbehör: 40x
Kortaste focuseringsavstånd
1.6 m
Kompensatornoggrannhet
0.3''
* Per 1km dubbelavvägning
För att förbättra noggrannheten kan en parallellplatte-mikrometer monteras på objektivet. Mikrometern möjliggör en direktavläsning av 0.1 mm samt en skattad avläsning av 0.01 mm. Detta gör NA2 och NAK2 till en idealist precisionsavvägare för deformationsmätningar och industriella applikationer.
NAK2 har en integrerad glascirkel för avläsning av horisontalvinkeln. I kombination med trådavläsningen och beräkningen av längder är NAK2 ett utmärkt redskap för alla typer av mätningsuppdrag.
Mer information?
Behöver du mer information om den här produkten?
Ange vad du letar efter, välj land, tryck sedan [Fortsätt] för att skicka förfrågan till närmaste Leica Geosystems kontakt:
